Dielectric microwave characterizations of ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Dielectric microwave characterizations of (Ba,Sr)TiO3 film deposited on high resistivity silicon substrate : analysis by two-dimensional tangential finite element method
Auteur(s) :
Ponchel, Freddy [Auteur]
Midy, J. [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Gueguan, G. [Auteur]
Midy, J. [Auteur]
Legier, Jean-François [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Gueguan, G. [Auteur]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
054112-1-5
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2010
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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