Study of the effect of gas pressure and ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Study of the effect of gas pressure and catalyst droplets number density on silicon nanowires growth, tapering, and gold coverage
Auteur(s) :
Chen, W.H. [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Lardé, Rodrigue [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Cadel, E. [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Xu, T. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pareige, Philippe [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Lardé, Rodrigue [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Cadel, E. [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Xu, T. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pareige, Philippe [Auteur]
Groupe de physique des matériaux [GPM]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
0849028
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2010
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Chimie/Matériaux
Chimie/Catalyse
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Chimie/Catalyse
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Résumé en anglais : [en]
We investigated the growth of silicon nanowires from Au-rich catalyst droplets by two different methods: chemical vapor deposition (CVD) and molecular beam epitaxy (MBE). The growth rate is found to be diameter-dependent ...
Lire la suite >We investigated the growth of silicon nanowires from Au-rich catalyst droplets by two different methods: chemical vapor deposition (CVD) and molecular beam epitaxy (MBE). The growth rate is found to be diameter-dependent and increases with increasing precursor partial pressures. The comparison of the experimental results with models shows that the contribution of Si atoms that diffuses from the substrate and the NW sidewalls toward the catalyst droplet can be neglected in CVD for the different pressures used in this study, whereas it is the major source of Si supply for the MBE growth. In addition, by decreasing the number density of catalyst droplet prior to the NW growth in CVD, it is also found that this parameter affects the NWs morphology, increasing the tapering effect when the silane partial pressure is small enough to allow gold atom diffusion from the catalyst dropletLire moins >
Lire la suite >We investigated the growth of silicon nanowires from Au-rich catalyst droplets by two different methods: chemical vapor deposition (CVD) and molecular beam epitaxy (MBE). The growth rate is found to be diameter-dependent and increases with increasing precursor partial pressures. The comparison of the experimental results with models shows that the contribution of Si atoms that diffuses from the substrate and the NW sidewalls toward the catalyst droplet can be neglected in CVD for the different pressures used in this study, whereas it is the major source of Si supply for the MBE growth. In addition, by decreasing the number density of catalyst droplet prior to the NW growth in CVD, it is also found that this parameter affects the NWs morphology, increasing the tapering effect when the silane partial pressure is small enough to allow gold atom diffusion from the catalyst dropletLire moins >
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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