Thermal noise in MOSFETs : a two- or a ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Thermal noise in MOSFETs : a two- or a three-parameter noise model ?
Author(s) :
Emam, M. [Auteur]
Sakalas, P. [Auteur]
Vanhoenacker-Janvier, D. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Lim, T.C. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Sakalas, P. [Auteur]
Vanhoenacker-Janvier, D. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Lim, T.C. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
1188-1191
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2010
ISSN :
0018-9383
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :