Six-port based near-field millimeter-wave ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Six-port based near-field millimeter-wave microscope using a slit scanning probe
Author(s) :
Wang, M.M. [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Benzaim, O. [Auteur]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Haddadi, Kamel [Auteur]

Benzaim, O. [Auteur]
Glay, David [Auteur]

Lasri, Tuami [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
4th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, ICONIC 2009
Country :
Taïwan
Start date of the conference :
2009
Book title :
Proceedings of the 4th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, ICONIC 2009
Publisher :
_
Publication date :
2009
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :