Title :

Characterisation and modelling of parasitic effects and failure mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs

Author(s) :

Malbert, N. [Auteur]
Labat, N. [Auteur]
Curutchet, A. [Auteur]
Sury, C. [Auteur]
Hoel, V. [Auteur]
De Jaeger, J.C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Defrance, N. [Auteur]
Douvry, Y. [Auteur]
Dua, C. [Auteur]
Oualli, M. [Auteur]
Bru-Chevallier, C. [Auteur]
Bluet, J.M. [Auteur]
Chikhaoui, W. [Auteur]

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2009

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Submission date :

2021-07-27T18:51:33Z