Title :

RF doubling and rectification in three-terminal junctions : experimental characterization and Monte Carlo analysis

Author(s) :

Iniguez-De-La-Torre, I. [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gardes, C. [Auteur]
Roelens, Yannick [Auteur]
Bollaert, S. [Auteur]
Curutchet, A. [Auteur]
Gaquière, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mateos, J. [Auteur]

Journal title :

Journal of Physics: Conference Series

Pages :

012021-1-4

Publisher :

IOP Science

Publication date :

2009

ISSN :

1742-6596

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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