Determination of the d31 piezoelectric ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Determination of the d31 piezoelectric coefficient of PZT thin film using dedicated microelectromechanical systems
Auteur(s) :
Ayela, Cédric [Auteur]
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [LAAS]
Cattan, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bergaud, Christian [Auteur]
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [LAAS]
Pugnière, Martine [Auteur]
Institut de Recherche en Infectiologie de Montpellier [IRIM]
Nicu, Liviu [Auteur]
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [LAAS]
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [LAAS]
Cattan, Eric [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bergaud, Christian [Auteur]
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [LAAS]
Pugnière, Martine [Auteur]
Institut de Recherche en Infectiologie de Montpellier [IRIM]
Nicu, Liviu [Auteur]
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [LAAS]
Titre de la manifestation scientifique :
MRS fall meeting
Ville :
Boston
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2005-11-28
Titre de l’ouvrage :
MRS 2005 fall meeting
Date de publication :
2005-11-28
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :