Characterization of MOS varactors with ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Characterization of MOS varactors with Large Signal Network Analyser (LSNA) in CMOS 65nm bulk and SOI technologies
Auteur(s) :
Morandini, Y. [Auteur]
Ducateau, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Larchanche, J.F. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Ducateau, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Larchanche, J.F. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]

Gloria, D. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Proceedings of the 69th ARFTG Microwave Measurement Conference
Ville :
Honolulu, HI
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2007
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :