Caractérisation non linéaire et analyse ...
Type de document :
Partie d'ouvrage
Titre :
Caractérisation non linéaire et analyse de transistors à effet de champ pour applications hyperfréquences dans le domaine temporel
Auteur(s) :
Ducatteau, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de publication :
2008
Langue :
Français
Audience :
Non spécifiée
Source :