Transmission electron microscopy study of ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications
Auteur(s) :
Ratajczak, J. [Auteur]
Laszcz, A. [Auteur]
Czerwinski, A. [Auteur]
Katcki, J. [Auteur]
Phillipp, F. [Auteur]
van Aken, P.A. [Auteur]
Reckinger, N. [Auteur]
Dubois, Emmanuel [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
XIII International Conference on Electron Microscopy, EM'2008
Ville :
Cracow-Zakopane
Pays :
Pologne
Date de début de la manifestation scientifique :
2008
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL