Titre :

Film thickness determination by laser ultrasonics

Auteur(s) :

Lemaire, M. [Auteur]
Jenot, Frederic [Auteur]
Ouaftouch, Mohammadi [Auteur]
Xu, Wei Jiang [Auteur]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Ourak, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cote, R. [Auteur]
Salenbien, R. [Auteur]
Sarens, B. [Auteur]
Lauriks, W. [Auteur]
Glorieux, C. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

Second ASA-EAA Joint Conference, ACOUSTICS'08

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2008

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the Second ASA-EAA Joint Conference, ACOUSTICS'08

Éditeur :

_

Date de publication :

2008

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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