Titre :

Experimental Lamb mode identification in a plate containing a hole using dual signal processing

Auteur(s) :

Grondel, Sebastien [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Assaad, Jamal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
El Youbi, Faysal [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Moulin, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Abou Leyla, Najib [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

Measurement Science and Technology

Pagination :

125703-1-6

Éditeur :

IOP Publishing

Date de publication :

2008

ISSN :

0957-0233

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

The identification of Lamb mode amplitude variation as a function of the damage evolution is still the most difficult step in the process of damage monitoring using embedded Lamb wave-based systems. The aim of this paper ...
Lire la suite >The identification of Lamb mode amplitude variation as a function of the damage evolution is still the most difficult step in the process of damage monitoring using embedded Lamb wave-based systems. The aim of this paper is to propose a simple system based on the generation of two different frequencies in order to better identify Lamb mode amplitude and to avoid false data interpretation in plates containing a hole of variable diameter. This identification is based on a simple relation between the short-time Fourier transform and the two-dimensional Fourier transform. Experimentally, a 3 mm thick aluminium plate is used and the two frequencies have been chosen equal to 400 kHz and 600 kHz in order to generate the two first fundamental Lamb waves.Lire moins >

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL