Title :

Kelvin force microscopy at the second cantilever resonance : an out-of-vacuum crosstalk compensation setup

Author(s) :

Diesinger, H. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]

Journal title :

Ultramicroscopy

Pages :

773-781

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2008

ISSN :

0304-3991

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL