Gate pulse electrical method to characterize ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Gate pulse electrical method to characterize hysteresis phenomena in organic field effect transistor
Auteur(s) :
Petit, C. [Auteur]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Ternisien, M. [Auteur]
Tondelier, D. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Ternisien, M. [Auteur]
Tondelier, D. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Organic Electronics
Pagination :
979-984
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2008
ISSN :
1566-1199
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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