Titre :

Detection and characterization of buried macroscopic cracks inside dielectric materials by microwave techniques and artificial neural networks

Auteur(s) :

Maazi, M. [Auteur]
Benzaim, O. [Auteur]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

Pagination :

2819-2826

Éditeur :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Date de publication :

2008

ISSN :

0018-9456

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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