Scanning near-field millimeter-wave ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1109/TIM.2008.926365
Title :
Scanning near-field millimeter-wave microscope : application to a vector-coding technique
Author(s) :
Benzaim, O. [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Wang, M.M. [Auteur]
Maazi, M. [Auteur]
Glay, David [Auteur] refId
Lasri, Tuami [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Pages :
2392-2397
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2008
ISSN :
0018-9456
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL