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Dynamic Optical Characterization of NEMS ...
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Dynamic Optical Characterization of NEMS Resonators
Author(s) :
Coudron, Loïc [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Casset, Fabrice [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Durand, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Renaux, P. [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Ollier, E. [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Bloch, Daniel [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Vairac, Pascal [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Conference title :
SiRF 2008. IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems
City :
Orlando
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2008-01-23
Book title :
Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems, 2008
Publication date :
2008-02-01
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Autre
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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