Measurement methods for the d(33) coefficient ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Measurement methods for the d(33) coefficient of PZT thin films on silicon substrates : a comparison of double-beam laser interferometer (DBI) and single-beam laser vibrometer (LDV) techniques
Author(s) :
Pokorny, M. [Auteur]
Sulc, M. [Auteur]
Herdier, R. [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Jenkins, D. [Auteur]
Sulc, M. [Auteur]
Herdier, R. [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Jenkins, D. [Auteur]
Journal title :
Ferroelectrics
Pages :
122-130
Publisher :
Taylor & Francis: STM, Behavioural Science and Public Health Titles
Publication date :
2007
ISSN :
0015-0193
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :