Characterization of trapping/de-trapping ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Characterization of trapping/de-trapping phenomena by pulse gate voltage techniques in pentacene field effect transistor
Author(s) :
Petit, C. [Auteur]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Tondelier, D. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]

Tondelier, D. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]

Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
9th European Conference on Molecular Electronics, ECME 2007
City :
Metz
Country :
France
Start date of the conference :
2007
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :