Titre :

Coupling on-wafer measurement errors and their impact on calibration and de-embedding up to 110 GHz for CMOS millimeter wave characterizations

Auteur(s) :

Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Scheer, P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07

Pays :

Japon

Date de début de la manifestation scientifique :

2007

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07

Éditeur :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Date de publication :

2007

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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