Coupling on-wafer measurement errors and ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/ICMTS.2007.374494
Title :
Coupling on-wafer measurement errors and their impact on calibration and de-embedding up to 110 GHz for CMOS millimeter wave characterizations
Author(s) :
Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Scheer, P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Conference title :
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07
Country :
Japon
Start date of the conference :
2007
Book title :
Proceedings of 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07
Publisher :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Publication date :
2007
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL