Coupling on-wafer measurement errors and ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes: Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
DOI :
10.1109/ICMTS.2007.374494
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/51601
Titre :
Coupling on-wafer measurement errors and their impact on calibration and de-embedding up to 110 GHz for CMOS millimeter wave characterizations
Auteur(s) :
Andrei, C. [Auteur]
Gloria, D. [Auteur]
Danneville, F. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Scheer, P. [Auteur]
Dambrine, G. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07
Pays :
Japon
Date de début de la manifestation scientifique :
2007
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, ICMTS'07
Éditeur :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Date de publication :
2007
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Date de dépôt :
2021-07-27T20:31:36Z