Effect of thermal strain on structure and ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
DOI :
10.1007/s00339-007-4022-9
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/51670
Title :
Effect of thermal strain on structure and polarization fatigue of CSD-derived PbZr0.53Ti0.47O3/LaNiO3 hetero-structures
Author(s) :
Wang, G.S. [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Dong, X.L. [Auteur]
Publisher :
Springer Verlag
Publication date :
2007
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2021-07-27T20:37:08Z
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