Title :

X-ray photoelectron spectroscopy study of the oxidation of Se passivated Si(001)

Author(s) :

Aguirre-Tostado, F.S. [Auteur]
Layton, D. [Auteur]
Herrera-Gomez, A. [Auteur]
Wallace, R.M. [Auteur]
Zhu, J. [Auteur]
Larrieu, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Maldonado, E. [Auteur]
Kirk, W.P. [Auteur]
Tao, M. [Auteur]

Journal title :

Journal of Applied Physics

Pages :

084901-1-7

Publisher :

American Institute of Physics

Publication date :

2007

ISSN :

0021-8979

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL