Raman spectroscopy and AFM characterization ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Raman spectroscopy and AFM characterization on individual Si-based nanowires
Author(s) :
Marczak, M. [Auteur]
Zdrojek, M. [Auteur]
Gebicki, W. [Auteur]
Jastrzebski, C. [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourlier, D. [Auteur]
Conference title :
European Material Research Society Spring Meeting, E-MRS - IUMRS - ICEM 06, Symposium E : Science and Technology of Nanotubes and Nanowires
City :
Nice
Country :
France
Start date of the conference :
2006
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL