Attenuation measurements in thin films ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Attenuation measurements in thin films using picosecond ultrasonics
Author(s) :
Emery, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Devos, Arnaud [Auteur]
Volatier, A. [Auteur]
Ancey, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Devos, Arnaud [Auteur]

Volatier, A. [Auteur]
Ancey, P. [Auteur]
Conference title :
Proceedings of the 2006 IEEE International Ultrasonics Symposium
City :
Vancouver
Country :
Canada
Start date of the conference :
2006
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :