La spectroscopie STM : application à l'étude ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
La spectroscopie STM : application à l'étude de molécules organiques sur silicium ou de défauts ponctuels dans les semi-conducteurs
Author(s) :
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Journée Surfaces et Interfaces, JSI 2000
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2000
Publication date :
2000
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL