Scanning tunneling microscopy based lithography in UHV

Document type :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Title :

Author(s) :

Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Melin, Thierry [Auteur]

Conference title :

5th MEL-ARI/NID Workshop

City :

Pise

Country :

Italie

Start date of the conference :

2000

Publication date :

2000

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

Source :

Scanning tunneling microscopy based ... BibTeX CSV Excel RIS