Microscopic characterization of defects ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Microscopic characterization of defects using scanning tunneling microscopy
Auteur(s) :
Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Materials Science and Engineering: B
Pagination :
120-127
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2000
ISSN :
0921-5107
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :