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Electron induced dissociation of SiH ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Electron induced dissociation of SiH complexes in hydrogenated Si doped GaAs. Application to the fabrication of microstructures
Author(s) :
Silvestre, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Constant, E. [Auteur]
Bernard-Loridant, D. [Auteur]
Constant, M. [Auteur]
Chevallier, Jacques [Auteur]
Journal title :
Superlattices and Microstructures
Pages :
431-435
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2000
ISSN :
0749-6036
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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