Title :

Interplay between segregation, roughness and local strains in the growth of Ga0.75In0.25P alloy

Author(s) :

Wallart, X. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Priester, C. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Mollot, F. [Auteur]

Journal title :

Applied Physics Letters

Pages :

253-255

Publisher :

American Institute of Physics

Publication date :

2000

ISSN :

0003-6951

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL