• English
    • français
  • Help
  •  | 
  • Contact
  •  | 
  • About
  •  | 
  • Login
  • HAL portal
  •  | 
  • Pages Pro
  • EN
  •  / 
  • FR
View Item 
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
  •   LillOA Home
  • Liste des unités
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Measurement of residual phase noise of ...
  • BibTeX
  • CSV
  • Excel
  • RIS

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1049/el:20000983
Title :
Measurement of residual phase noise of frequency divider using a single divider technique
Author(s) :
Brugidou, V. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rolland, Paul-Alain [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Electronics Letters
Pages :
1391-1393
Publisher :
IET
Publication date :
2000
ISSN :
0013-5194
English keyword(s) :
phase noise
electric noise measurement
frequency dividers
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
A new technique for measuring the residual phase noise of a frequency divider is proposed. The new technique enables one divider to be characterised whereas the traditional technique necessitates two dividers. Experimentation ...
Show more >
A new technique for measuring the residual phase noise of a frequency divider is proposed. The new technique enables one divider to be characterised whereas the traditional technique necessitates two dividers. Experimentation demonstrates the validity of the technique, which is quicker and more accurate than the traditional technique.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Université de Lille

Mentions légales
Université de Lille © 2017