Issues in high frequency noise simulation ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Issues in high frequency noise simulation for deep submicron MOSFET's
Author(s) :
Goo, J.S. [Auteur]
Choi, C.H. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yu, Z. [Auteur]
Lee, T. [Auteur]
Dutton, R. [Auteur]
Start date of the conference :
2000
Book title :
American Institute of Physics Conference Proceedings, 511
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2000
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL