Title :

Feasibility of contact-less temperature control by microwave radiometry during sintering of powdered SiC and Al/SiC samples

Author(s) :

Ricard, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dubois, Luc [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vaucher, S. [Auteur]
Leparoux, S. [Auteur]
Camart, J.C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS

Pages :

2037-2041

Publisher :

Wiley

Publication date :

2006

ISSN :

0895-2477

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL