Titre :

Feasibility of contact-less temperature control by microwave radiometry during sintering of powdered SiC and Al/SiC samples

Auteur(s) :

Ricard, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dubois, Luc [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vaucher, S. [Auteur]
Leparoux, S. [Auteur]
Camart, Jean-Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS

Pagination :

2037-2041

Éditeur :

Wiley

Date de publication :

2006

ISSN :

0895-2477

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL