Title :

On-wafer high frequency noise power measurements under cryogenic conditions : a new de-embedding approach [HEMT example]

Author(s) :

Delcourt, S. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bourzgui, Nour Eddine [Auteur]
Lepilliet, Sylvie [Auteur]
Laporte, C. [Auteur]
Fraysse, J.P. [Auteur]
Maignan, M. [Auteur]

Start date of the conference :

2004

Book title :

Proceedings of the 34th European Microwave Conference, EuMC 2004

Publisher :

Horizon House Publications Ltd, London, UK

Publication date :

2004

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL