Title :

Hydrogen passivation and local electron-beam reactivation of silicon dopants in GaAs characterized by differential conductance and STM spectroscopy measurements

Author(s) :

Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Silvestre, S. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Bernard, Dorothee [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Constant, E. [Auteur]
Chevallier, C. [Auteur]

Conference title :

11th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Techniques, STM 2001

City :

Vancouver

Country :

Canada

Start date of the conference :

2001

Publication date :

2001

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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