Inductive effects on crosstalk evaluation

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/IITC.2001.930018
Titre :
Inductive effects on crosstalk evaluation
Auteur(s) :
Servel, Gregory [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Huret, Fabrice [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deschacht, Denis [Auteur]
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques [SysMIC]
Titre de la manifestation scientifique :
ITC: Interconnect Technology Conference
Ville :
Burlingame, CA
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2002-06-06
Titre de l’ouvrage :
International Interconnect Technology Conference
Éditeur :
IEEE
Date de publication :
2001
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Résumé en anglais : [en]
Coupling noise between adjacent interconnect lines has become more significant in deep submicron technologies. From an electromagnetic analysis, this coupling noise is determined with respect to the different parameters ...
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Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL