Microwave radiometry as a way to measure ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Microwave radiometry as a way to measure and control the temperature in industrial process
Author(s) :
Dubois, Luc [Auteur] refId
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Sozanski, J.P. [Auteur]
Camart, J.C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Chive, M. [Auteur]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Progress in Electromagnetics Research Symposium, PIERS 2001
City :
Osaka
Country :
Japon
Start date of the conference :
2001
Publication date :
2001
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL