Titre :

Inversion of V(z) responses for determination Cij elastic constants by using an optimization method on the singularities of the reflection coefficient

Auteur(s) :

Benmehrez, Youssef [Auteur]
École des Mines de Douai [Mines Douai EMD]
Lematre, Michael [Auteur]
École des Mines de Douai [Mines Douai EMD]
Bourse, G. [Auteur]
École des Mines de Douai [Mines Douai EMD]
Xu, Wei Jiang [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ourak, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

QUANTITATIVE NONDESTRUCTIVE EVALUATION

Ville :

Brunswick

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2001-07-29

Titre de l’ouvrage :

American Institute of Physics Conference Proceedings, 615B

Éditeur :

American Institute of Physics

Date de publication :

2002

Mot(s)-clé(s) en anglais :

Ultrasonics quantum acoustics and physical effects of sound
Nondestructive testing: ultrasonic testing photoacoustic testing
Elasticity elastic constants

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

The measurement of the V(z) curve, also called acoustical material signature has been used to determine cij elastic constants. The method is based on the comparison of measured and calculated R(θ,f) reflection coefficient. ...
Lire la suite >The measurement of the V(z) curve, also called acoustical material signature has been used to determine cij elastic constants. The method is based on the comparison of measured and calculated R(θ,f) reflection coefficient. The measured R(θ,f) is determined by inversion of the V(z) curve. The cij elastic constants are obtained by using an optimization method (simplex method), which minimizes the square difference summation Σ|Rm-Rc|2 between the measured and calculated R(θ,f) (phase and modulus) on limited angular ranges. This paper deals with the case of isotropic plates and anisotropic cubic substrates.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL