Title :

Characterization of surface cracks in metals by microwave techniques

Author(s) :

Glay, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, T. [Auteur]

Start date of the conference :

2002

Book title :

Proceedings of the 11th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials

Publisher :

Springer-Verlag

Publication date :

2002

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL