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Long dephasing time and high temperature ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1103/PhysRevB.66.241305
Title :
Long dephasing time and high temperature conductance fluctuations in open InGaAs quantum dot
Author(s) :
Hackens, Benoit [Auteur]
Delfosse, François [Auteur]
Faniel, Sébastien [Auteur]
Gustin, Cédric [Auteur]
Boutry, Hervé [Auteur]
Wallart, X. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cappy, A. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bayot, Vincent [Auteur]
Journal title :
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015)
Pages :
241305/1-4
Publisher :
American Physical Society
Publication date :
2002
ISSN :
1098-0121
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
We measure the electron phase-coherence time τφ up to 18 K using universal fluctuations in the low-temperature magnetoconductance of an open InGaAs quantum dot. The temperature dependence of τφ is quantitatively consistent ...
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We measure the electron phase-coherence time τφ up to 18 K using universal fluctuations in the low-temperature magnetoconductance of an open InGaAs quantum dot. The temperature dependence of τφ is quantitatively consistent with the two-dimensional model of electron-electron interactions in disordered systems. In our sample, τφ is two to four times larger than previously reported in GaAs quantum dots. We attribute this enhancement to a larger value of the Fermi energy and the lower electron effective mass in our sample. We also observe a distinct type of conductance fluctuation due to ballistic electron focusing inside the dot up to 204 K.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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