Top-down approaches for the study of ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Top-down approaches for the study of single-cells: micro-engineering and electrical phenotype
Author(s) :
SENEZ, Vincent [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Akalin, Tahsin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Arscott, Steve [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
BOURZGUI, Nour-Eddine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bocquet, Bertrand [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fujii, Teruo [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Lennon, Erwan [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Yamamoto, Takahisa [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Akalin, Tahsin [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Arscott, Steve [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
BOURZGUI, Nour-Eddine [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bocquet, Bertrand [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fujii, Teruo [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Lennon, Erwan [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Yamamoto, Takahisa [Auteur]
Conference title :
Advances in Science and Technology
City :
Sicily
Country :
Italie
Start date of the conference :
2006-06-04
Book title :
Proceedings of the 2005 Biomedical Applications of Nano Technologies Conference
Publisher :
Trans Tech Publications, Stafa-Zuerich, Switzerland
Publication date :
2006
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :