Top-down approaches for the study of ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Top-down approaches for the study of single-cells: micro-engineering and electrical phenotype
Auteur(s) :
Senez, Vincent [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Akalin, Tahsin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Arscott, Steve [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bourzgui, Nour-Eddine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bocquet, Bertrand [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fujii, Teruo [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Lennon, Erwan [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Yamamoto, Takahisa [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Akalin, Tahsin [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Arscott, Steve [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bourzgui, Nour-Eddine [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bocquet, Bertrand [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fujii, Teruo [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Lennon, Erwan [Auteur]
Laboratory for Integrated Micro Mechatronics Systems [LIMMS]
Yamamoto, Takahisa [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Advances in Science and Technology
Ville :
Sicily
Pays :
Italie
Date de début de la manifestation scientifique :
2006-06-04
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 2005 Biomedical Applications of Nano Technologies Conference
Éditeur :
Trans Tech Publications, Stafa-Zuerich, Switzerland
Date de publication :
2006
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :