Titre :

Behaviour of TFMS and CPW line on SOI substrate versus high temperature for RF applications

Auteur(s) :

Si Moussa, M. [Auteur]
Pavageau, C. [Auteur]
Lederer, D. [Auteur]
Picheta, L. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fel, N. [Auteur]
Russat, J. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Vanhoenacker-Janvier, D. [Auteur]

Titre de la revue :

Solid-State Electronics

Pagination :

1822-1827

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2006

ISSN :

0038-1101

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL