Titre :

Thermal characterisation of AlGaN/GaN HEMTs using micro-Raman scatering spectroscopy and pulsed I-V measurements

Auteur(s) :

Aubry, Raphaël [Auteur]
Alcatel-Thalès III-V lab [III-V Lab]
Jacquet, Jean-Claude [Auteur]
Alcatel-Thales III-V Lab [III-V Lab]
Dua, Charu [Auteur]
Gerard, H. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dessertenne, B. [Auteur]
Thomson-CSF Laboratoire Central de Recherches [THOMSON-CSF LCR]
Di Forte-Poisson, Marie-Antoinette [Auteur]
Alcatel-Thalès III-V lab [III-V Lab]
Cordier, Yvon [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delage, Sylvain Laurent [Auteur]
THALES [France]

Titre de la manifestation scientifique :

International Conference on Silicon Carbide and Related Materials; ICSCRM2003

Ville :

Lyon

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2003-10-05

Titre de l’ouvrage :

Procedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials

Éditeur :

Trans Tech Publications Inc., Zurich, Switzerland

Date de publication :

2003

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL