Titre :

Scanning tunnelling spectroscopy of low dimensional semiconductor system

Auteur(s) :

Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

7th International Workshop on Beam Induced Assessment of Microstructures in Semiconductors, BIAMS 2003

Ville :

Lille

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Date de publication :

2003

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL