Feedback of MEMS reliability study on the ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD)
Author(s) :
Buchaillot, Lionel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2003
City :
Arcachon
Country :
France
Start date of the conference :
2003
Publication date :
2003
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :