Caractérisation électro-opique de composants ...
Document type :
Partie d'ouvrage
Title :
Caractérisation électro-opique de composants térahertz par échantillonnage Franz-Keldysh subpicoseconde
Author(s) :
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Publication date :
2003
Language :
Français
Audience :
Non spécifiée
Source :