Titre :

Caractérisation d'objets enfouis - Estimation du coefficient de réflexion

Auteur(s) :

Achrait-Furlan, Latifa [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mamouni, Ahmed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

Actes de TELECOM 03 et 3èmes Journées Franco-Maghrébines des Microondes et leurs Applications, JFMMA 2003

Ville :

Marrakech

Pays :

Maroc

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Titre de l’ouvrage :

Actes des 13èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2003

Éditeur :

Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq, France

Date de publication :

2003

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL