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High frequency noise sources extraction ...
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
High frequency noise sources extraction in nanometrique MOSFETs
Author(s) :
Danneville, Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Conference title :
NATO Advanced Research Workshop, Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
City :
Brno
Country :
République tchèque
Start date of the conference :
2003
Publication date :
2003
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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