Title :

High frequency noise sources extraction in nanometrique MOSFETs

Author(s) :

Danneville, Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Conference title :

NATO Advanced Research Workshop, Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices

City :

Brno

Country :

République tchèque

Start date of the conference :

2003

Publication date :

2003

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL