High frequency noise sources extraction ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
High frequency noise sources extraction in nanometrique MOSFETs
Author(s) :
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Conference title :
NATO Advanced Research Workshop, Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
City :
Brno
Country :
République tchèque
Start date of the conference :
2003
Publication date :
2003
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :